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CP 測試探針卡

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CP 測試探針卡

適用於金凸塊及微細間距的元件測試
多種site排列方式選擇。

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振溙科技股份有限公司成立於2012年12月，我們專注在全球半導體測試產業型態中之探針卡及相關測試機ATE周邊元件，從設計、組裝到驗證及維修保養。

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